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蔡司掃描電鏡新玩法

Dec 04,2021
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蔡司掃描電鏡輕松實(shí)現(xiàn)關(guān)聯(lián)定位、自動(dòng)成像和量化分析

在使用掃描電鏡的過(guò)程中,您是否總是遭遇如下問(wèn)題:

1. 在不同設(shè)備間切換樣品時(shí)總需耗費(fèi)大量時(shí)間重新定位感興趣區(qū)域

2. 總是為獲取大面積高分辨圖像而苦惱,需要頻繁切換成像參數(shù),調(diào)整像散聚焦

3. 得到圖像后又在為圖像的量化分析而發(fā)愁

針對(duì)以上的困擾和需求,蔡司對(duì)掃描電鏡特別推出智能電鏡解決方案,解決以上提到的問(wèn)題,確保您日常檢測(cè)和分析工作的順暢與高效。

 

01 關(guān)聯(lián)定位分析

 蔡司Connect模塊輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)顯微鏡到掃描電鏡的橋接,快速實(shí)現(xiàn)樣品在不同設(shè)備間的重新定位,還能統(tǒng)一管理關(guān)聯(lián)設(shè)備的數(shù)據(jù)和信息

 ? 關(guān)聯(lián)定位:通過(guò)關(guān)聯(lián)樣品臺(tái)實(shí)現(xiàn)樣品在不同顯微鏡設(shè)備之間自動(dòng)關(guān)聯(lián)重定位,大幅縮減操作用時(shí)

? 數(shù)據(jù)疊加:自由疊加來(lái)自手機(jī),光學(xué)顯微鏡,掃描電鏡的信息以及相關(guān)能譜信息

? 統(tǒng)一管理:管理來(lái)自不同關(guān)聯(lián)設(shè)備的數(shù)據(jù),輸出不同信息疊加圖像和視頻

 
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▲ PCB電路板的關(guān)聯(lián)顯微分析(光鏡,電鏡,能譜信息),左:宏觀圖像;右:感興趣位置局部放大

 


                              
00:00/00:27
BT高清正常

芯片關(guān)聯(lián)顯微分析視頻(光鏡,共聚焦,電鏡)

 

02 自動(dòng)成像 

蔡司SmartSEM Touch定制軟件,全面兼顧參數(shù)設(shè)置,成像,自動(dòng)化拼圖,圖像瀏覽,實(shí)現(xiàn)智能高效的掃描電鏡成像

 ? 向?qū)讲僮髁鞒?/span>,界面簡(jiǎn)潔,操作簡(jiǎn)單

? 根據(jù)樣品智能匹配成像參數(shù),實(shí)現(xiàn)自動(dòng)聚焦

? 簡(jiǎn)單操作即可完成高通量圖像拍攝和拼接

 

SmartSEM Touch操作界面_1.jpg

SmartSEM Touch操作界面_3.jpgSmartSEM Touch操作界面_2.jpg

▲簡(jiǎn)潔的SmartSEM Touch操作界面

 

03 量化分析

蔡司ZEN模塊實(shí)現(xiàn)從電鏡圖像獲取,圖像處理,圖像分割,自動(dòng)測(cè)量到報(bào)告生成的整個(gè)量化分析流程

? 一鍵獲取掃描電鏡圖像,向?qū)降姆治龉ぷ髁鞒?/span>,毫無(wú)經(jīng)驗(yàn)的新手也可輕松掌握

? 基于機(jī)器學(xué)習(xí)的ZEN Intellesis模塊輕松實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)閾值方法難以達(dá)成的圖像處理需求

? 豐富的測(cè)量功能,如顆粒統(tǒng)計(jì)分析,孔隙率,含量百分比,層厚測(cè)量,晶粒度評(píng)級(jí)等

 

量化分析界面-二值化分割.png

▲量化分析界面-二值化分割

 

金屬焊接位置孔隙大小分析及含量分析.png

▲金屬焊接位置孔隙大小分析及含量分析

 

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▲滿足多種測(cè)量需求——高級(jí)測(cè)量               ▲顆粒分析                              ▲晶粒度評(píng)級(jí)                  


image.png

                      ▲含量百分比                                ▲層厚測(cè)量                                  ▲孔隙率分析     

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